Profilomètre pour environnement de production ou laboratoire

NanoFocus et Digital Surf ont annoncé que le nouveau ?scan explorer sans contact de NanoFocus intègre des capteurs optiques de distance, des systèmes d'acquisition de données et de pilotage et le logiciel d'analyse de surface basés sur les technologies de Digital Surf. Ce profilomètre est conçu pour une utilisation aussi bien dans des laboratoires que des environnements de production. La modularité et la haute précision du ?scan explorer font qu'il répond à une large gamme de besoins, y compris la mesure de la texture de surface, la rugosité et la géométrie ainsi que l'épaisseur de matériaux transparents. En plus des configurations 3D avec une capacité de mesure jusqu'à 200 mm (X)×150 mm (Y)×140 mm (Z), il existe des configurations 2D pour la mesure de profils. Le système intégré d'acquisition de données et de pilotage du ?scan explorer est basé sur la technologie robuste de Digital Surf Volcanyon permettant la mise en place rapide de mesures, la réalisation de mesures automatisées par lot, le contrôle de mesure en temps réel et l'analyse de surface entièrement intégrée. Chaque ?scan explorer est équipé d'un ou deux capteurs de distance optiques sans contact et d'une caméra. Les capteurs sont sélectionnés parmi trois capteurs haute résolution confocaux chromatiques avec une gamme verticale de 400 ?m à 3200 ?m et une résolution verticale de 2 nm à 15 nm. Ils peuvent mesurer tous types de surfaces, y compris transparentes, réfléchissantes, opaques et multi-matériaux. Basés sur la technologie de Digital Surf Nobis, les capteurs ont été conçus spécifiquement pour être insensibles à la pente. Ils sont non seulement capables de mesurer une hauteur de marche entre deux niveaux sur un composant mécanique ou électronique mais également à même de mesurer une pente sur ce type de composants ou sur un composant optique. Le ?scan explorer intègre le logiciel d'analyse de surface ?soft basé sur la technologie Mountains de Digital Surf, compatible avec les dernières normes internationales.